我國引進的第一臺NanoSIMS50L型納米離子探針驗收會于2011年3月14日在中國科學院地質于地球物理研究所召開。副所長吳福元研究員為組長的專家組認真聽取了法國CAMECA公司納米離子探針設計師、FrançoisHillion博士所作的驗收報告。專家組對儀器的驗收指標有關問題進行了提問，一致認為該儀器的技術參數不僅全部達到合同要求，大部分還優于合同要求的驗收指標。

　　納米離子探針具有極高的空間分辨率(Cs 源束斑小于50nm，O-源束斑小于200nm)，與我所已有的CAMECAims1280高精度離子探針互補，構成國際上非常先進的的離子探針分析平臺。新引進的NanoSIMS50L型納米離子探針配置了7個信號檢測器(每個配置法拉第杯和電子倍增器)，可以同時測量7個同位素(或元素)，分析精度好于千分之一。該儀器可以分析除稀有氣體以外，元素周期表中從H至U的全部同位素(元素)，并能獲取同位素分布的高分辨圖像。納米離子探針的引進，為我國比較行星學、地球科學、材料科學、以及生命科學等領域提供了新的大型實驗分析平臺。